GPIB自動(dòng)化解決方案

豐科精密機械有限公司可按需進(jìn)行定制加工，快速制造各種原型樣件，小批量生產(chǎn)零件。我們隨時(shí)歡迎您的咨詢(xún)！

• 功能-RMS

? 自動(dòng)下載TestProgame，每次開(kāi)始run貨前進(jìn)行RMS比對
? 指定ProberRecipe，并在每次開(kāi)始run貨前進(jìn)行RMS比對
? 實(shí)時(shí)監控Prober參數，比如溫度，測試OD,Probe Card Clean等
? 每篇Wafer開(kāi)始及測試過(guò)程中斷后再繼續測試時(shí)都要進(jìn)行Probe參數對比




• 功能-RTM

? 實(shí)時(shí)獲取測試數據，無(wú)延時(shí)
? 實(shí)時(shí)顯示Map圖并進(jìn)行良率監控
? 實(shí)時(shí)監控Tester和Prober的狀況，防止測試過(guò)程中異常Down機而無(wú)法發(fā)現
? 獲取Tester測試數據，By Wafer統計相關(guān)Yield




• 功能-AutoContact

? 無(wú)需上貨前復雜的手動(dòng)Contact過(guò)程，全自動(dòng)測量出正確的OD值
? 提高生產(chǎn)效率，將Contact的時(shí)間從分鐘級別縮短至6秒之內
? 支持Z軸調整過(guò)程中的自定義上下Limit報警，以免損壞針卡
? 支持1點(diǎn)和5點(diǎn)Contact




• 功能-RTM

? 通過(guò)良率分析，得出良率最好的DUT使用的Probe Card，重測時(shí)使用指定Probe Card進(jìn)行測試
? Reprobing之前，自動(dòng)計算最優(yōu)路徑，以最快速度完成重測
? 通過(guò)前一次測試的BIN良率數據分析，重測某一BIN份的DIE數據
? 通過(guò)前一次測試的Site良率分析，以良率高的Site重新測試